NF C74-382/A1-1986 C74-382-86的补充1

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【英文标准名称】:
【原文标准名称】:C74-382-86的补充1
【标准号】:NFC74-382/A1-1986
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1986-12
【实施或试行日期】:1986-11-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:避雷针;避雷线;过电压保护装置;作标记;低压电器;开关设备;低压开关设备;定义;分类;试验;特性;性能试验;分类系统;防电击;电气安全;性能评定;认证认证认证;避雷装置
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C38
【国际标准分类号】:
【页数】:6P;A4
【正文语种】:其他


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【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis.Chemicalmethodsforthecollectionofelementsfromthesurfaceofsilicon-waferworkingreferencematerialsandtheirdeterminationbytotal-reflectionX-rayfluorescence(TXRF)spectroscopy
【原文标准名称】:表面化学分析.从硅片工作标准物质表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱(TXRF)法的测定
【标准号】:BSISO17331-2004+A1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2005-03-31
【实施或试行日期】:2005-03-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:化学分析和测试;定义(术语);含量测定;精整;印制电路板;特性;硅;硅片;光谱学;表面;全反射;薄片;X射线;X射线分析;X射线荧光光谱法
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Definitions;Determinationofcontent;Finishes;Printed-circuitboards;Properties;Silicon;Siliconslices;Spectroscopy;Surfaces;Totalreflection;Wafers;X-ray;X-rayanalysis;X-rayfluorescencespectrometry
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:28P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:固井计量仪技术条件
中标分类: 石油 >> 石油勘探、开发、集输设备 >> 石油钻采设备与仪器
发布日期:
实施日期:1992-07-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:3页
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所属分类: 石油 石油勘探 开发 集输设备 石油钻采设备与仪器